光伏组件pid测试

PID是一种电势诱导衰减现象，最早由SunPower发现，是指组件长期在高电压下使得玻璃，封装材料之间存在漏电流，大量电荷聚集在电池表面。使得电池表面的钝化效果恶化，导致填充因子（FF）, 短路电流（Isc）,开路电压（Voc）降低，使得组件的性能低于设计标准，发电能力也随之下降。

2010年，NREL和Solon证实了无论组件采取何种技术的P型晶硅电池，组件在负偏压下都有PID的风险。中科检测具备光伏组件pid测试资质能力，可以出具CMA、CNAS检测报告。

PID测试有两种加速老化的方法：
1）在特定的温度、湿度下，在组件玻璃表面覆盖铝箔、铜箔或者湿布，在组件的输出端和表面覆盖物之间施加电压一定的时间。
2）在85%湿度85℃或者是60℃或85℃的环境下将-1000V直流电施加在组件输出端和铝框上48~96小时。

PID 测试标准引自 IEC 62804 （Draft） 根据IEC61730-2 MST 01进行外观检测；
根据IEC61215第二版进行最大功率测试；
根据IEC61215第二版条目10.15进行湿漏电流测试；
如果组件有裸露的导电部位，则要根据IEC61730-2 MST13进行接地连续性测试

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