膜厚检测

在薄膜制造及加工业，检测薄膜的厚度是较常见的薄膜检测指标之一，厚度检测又多分为薄膜厚度检测以及涂层厚度检测两类。检测薄膜的厚度不管是技术方面还是成本方面，都有很大的挑战。但是，薄膜厚度对于实际生产来说又是很重要的指标。

由于薄膜具有可压缩的特性，若各类测厚仪对同种薄膜的检测厚度存在差距也是经常出现的情况，因此，严格按照标准规定的条件选择仪器十分重要。

中科检测具备膜厚检测资质能力，可以出具CMA、CNAS检测报告。

阳极氧化膜、磷化膜、涂层干膜、镀层、船舶涂装膜、镀镍膜、电镀膜、镀锌膜、纳米膜、滤膜等

1、磁性法：利用磁通量随涂膜的非磁性层在磁体和底材之间厚度的变化而变化的原理来测定磁性金属(铁基)底材上的涂膜厚度。

2、金相显微镜法：利用显微镜光学原理，对物体进行放大，可以观察到物体表面或断面的金相显微结构。

3、库伦法：根据库仑定律,以溶解镀层金属消耗的电量、溶解镀层面积、镀层金属的电化当量、密度以及阳极溶解的电流效率计算镀层的局部厚度。

4、X光射线法：X射线射到电镀层表面，产生X射线荧光，根据荧光谱线元素能量位置及其强度确定镀层组成及厚度。

5、电涡流法：利用感应涡流随仪器探头线圈与基础金属间涂膜厚度的大小变化来测定非磁性金属(非铁基)底材上非导电涂层膜厚。

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