XRD分析

XRD，即X-Ray Diffraction（X射线衍射）的缩写，是一种用于分析材料结构的重要方法。它通过测量材料对X射线的衍射情况，可以确定材料的晶体结构、晶体取向、晶格常数等信息。

XRD分析通常用于确定物质的晶相组成和晶体结构，以及物质中不同元素的晶体排列方式。其原理基于布拉格定律，即当X射线照射到晶体上时，根据入射角和衍射角的关系，可以确定晶体的晶格常数和晶体结构。

通过测量X射线与晶体相互作用后的衍射图样，可以推断晶体的结构信息。XRD分析可以用于研究晶体的成分、结构、晶格常数以及晶体的取向情况，广泛应用于材料科学、地质学、化学等领域。

矿石、耐火材料、金属材料、机械零部件、腐蚀产物、污垢、金属覆盖层、无机化工产品等。

物相分析、化学分析、残余应力分析、晶型结构分析等。

ASTM D3906-2003 八面沸石型包含沸石材料的相对X射线衍射强度的测定用标准试验方法
BS EN 12698-2-2007 和碳化硅耐熔制品结合的氮化物的化学分析 射线衍射(XRD)法
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HB 20116-2012 航空发动机叶片表面残余应力的测定X射线衍射法
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JB/T 8426-1996 金属覆盖层 镍-磷合金镀层X射线衍射试验方法
GB/T 30904-2014 无机化工产品 晶型结构分析 X射线衍射法

产品质控：国内外市场销售，资质认证等等；

电商品控：产品进入超市或卖场，网站商城等；

贸易活动：政府部门、事业单位招投标、申请补助等；

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