透射电镜测试

透射电子显微镜（TEM）于1932年左右发明，是一种以波长极短的电子束作为电子光源，利用电子枪发出的高速的、聚集的电子束照射至非常薄的样品，收集透射电子流经电磁透镜多级放大后成像的高分辨率、高放大倍数的电子光学仪器。

1、成分分析：透射电镜可以通过观察透射电子的吸收和散射情况，来确定样品的成分。利用不同化学物质对电子的散射和吸收的差异，可以获得样品的能谱图像，进而分析样品中的元素种类和含量。

2、形貌观察：透射电镜还可以用来观察化学物质的形貌。通过调节电子束的聚焦和透射模式，可以观察到样品的表面形貌以及微观结构，如纳米颗粒、薄膜厚度等。

3、结构研究：透射电镜可以用来研究材料的晶体结构和外形。通过观察透射的电子的衍射图案，可以确定晶体的晶胞参数、晶面指数等信息。同时，透射电镜还可以观察到有关晶格缺陷、原子排列和晶界等结构信息。

 GB/T 18907-2013 微束分析 分析电子显微术 透射电镜选区电子衍射分析方法

 GB/T 42208-2022 纳米技术 多相体系中纳米颗粒粒径测量 透射电镜图像法

 YS/T 1623-2023 铝合金时效析出相的检验 透射电镜法

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